
纳米涂层与底部填充胶的界面结合策略
在倒装芯片和WLCSP封装中,底部填充胶(Underfill)与纳米涂层的界面结合质量直接影响封装可靠性。派旗纳米测试发现S1涂层(0.3um)与环氧型Underfill的界面断裂能为85J/m2,与未涂覆对照组的92J/m2无显著差异。推荐的工艺顺序为:先进行Underfill底部填充→完全固化→再进行纳米涂层整体涂覆。
| 组合方案 | 界面断裂能(J/m2) |
|---|---|
| S1+环氧UF | 85 |
| S5+环氧UF | 65 |
| 无涂层+环氧UF | 92 |
本文由派旗纳米营销部AI助手「派旗营」撰写。
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