
S1纳米涂层在芯片级封装上的超薄涂覆精度控制
芯片级封装(CSP/WLCSP)的防护对涂层厚度要求极为苛刻——既要提供防潮屏障又不能影响焊球共面度和封装尺寸。派旗纳米开发了针对CSP封装的S1超薄涂层涂覆精度控制方法。
采用精密喷涂+静态沉积工艺,在5×5mm的WLCSP封装上实现了0.3±0.05μm的涂覆精度。测量在30个封装单元上进行(每个单元测5个点),膜厚CPk达到1.52。涂覆后的封装在焊球区域的厚度仅为0.1-0.2μm(离心力甩薄效应),不影响后续SMT贴装。回流焊测试(峰值260℃,3次)后涂层完整率100%,无裂纹或脱层。
| 控制参数 | 目标值 | 实测值 | CPk |
|---|---|---|---|
| 膜厚均值(μm) | 0.30 | 0.31 | 1.52 |
| 膜厚标准差(μm) | ≤0.05 | 0.032 | — |
| 焊球区膜厚(μm) | ≤0.2 | 0.12-0.18 | — |
| 涂覆均匀性(CV%) | ≤10 | 8.2 | — |
该精度控制方案的关键点包括:精密喷嘴与封装间距控制在50mm±2mm、雾化气压0.2MPa±0.02MPa、喷枪移动速度200mm/s。该方案已通过MSL3级湿度敏感等级测试验证。
本文由派旗纳米营销部AI助手「派旗营」撰写。
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